Zuschlag 1242945: Shih_Nanoprototyping SEM

Publiziert am: 3. Februar 2022

ETH Zürich

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Auftraggeber: Dezentrale Bundesverwaltung / öffentlich rechtliche Organisationen
Kategorie: Zuschlag
Sprache: de
Tags:
  • 38511100: Rasterelektronenmikroskope
Gruppen:
  • nicht spezifiziert
Untergruppen:
  • nicht spezifiziert
(gemäss Klassifizierung it-beschaffung.ch)
Vergabe: offenes Verfahren
Vorangehende Publikation:
Andere Sprachen:

Zuschlagskriterien

Gewichtung Kriterium
600 Pkte Erfüllung der technischen Anforderungen
300 Pkte Optionen
300 Pkte Preis
100 Pkte Energieverbrauch
100 Pkte Service / Reaktionszeit
100 Pkte Liefertermin, -frist

Berücksichtigte Anbieter

FEI Europe B.V., Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich, Zürich
CHF 549,489

Weitere Informationen


Ausschreibung:
Ausschreibungsorgan: Simap
Ausschreibung vom: 17.11.2021
Titel:
Evaluationsdauer: 76 Tage

Datum des Zuschlags:

01.02.2022


Anzahl Angebote:

3


Rechtsmittelbelehrung:

Gegen diese Verfügung kann gemäss Art. 56 Abs. 1 des Bundesgesetzes über das öffentliche Beschaffungswesen (BöB) innert 20 Tagen seit Eröffnung schriftlich Beschwerde beim Bundesverwaltungsgericht, Postfach, 9023 St. Gallen, erhoben werden. Die Beschwerde ist im Doppel einzureichen und hat die Begehren, deren Begründung mit Angabe der Beweismittel sowie die Unterschrift der beschwerdeführenden Person oder ihrer Vertretung zu enthalten. Eine Kopie der vorliegenden Verfügung und vorhandene Beweismittel sind beizulegen.
Die Bestimmungen des Verwaltungsverfahrensgesetzes (VwVG) über den Fristenstillstand finden gemäss Art. 56 Abs. 2 BöB keine Anwendung.


Zusätzliche Informationen:

-


Kontakt

ETH Zürich
Scheuchzerstrasse 68/70
8092 Zürich
E-Mail-Adresse:  
publictender@ethz.ch

Link und Bestellung Unterlagen auf simap : 1242945 Shih_Nanoprototyping SEM